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텔레센트릭 렌즈를 통해 광학계가 균일한 LED광을 대상 물체에 조사합니다. 2차원 CMOS 상에 결상된 실루엣에서 명암의 에지 라인을 검출하여 치수나 각도 등을 측정합니다.
다양한 측정 모드를 통해 외경, 단차, 폭, 피치, 각도 등에 대한 검사를 빠르고 쉽게 설정할 수 있습니다.
고무나 광택이 있는 금속 및 글라스와 같이 기존에 검사하기 어려웠던 대상물체 등 실루엣이 결상되는 모든 대상물체를 정확하게 측정할 수 있습니다.
인라인·오프라인을 불문하고 다양한 용도로 고속 · 고정밀도 측정을 실현하며 투명, 불투명, 광택 여부에 관계없이 정밀 치수 측정이 가능합니다. 한번에 여러 포인트를 측정할 수 있어 택 타임이 단축됩니다.
카테터의 외경 측정
인젝터의 외경 측정
앰플의 최대 직경·최소 직경 측정
드릴의 외경 측정
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