3D 표면을 자동으로 측정 및 분석

• 비접촉 방식으로 측정

  

  형상과 거칠기 및 막 두께를 나노미터 고분해능으로 측정합니다.

• 재질에 제한이 없다

  

  재질에 제한없이 고분해능으로 표면 데이터를 수집합니다.

• 하이 앵글로 검출

  

  굴곡이 있거나 가파른 형상도 적은 노이즈로 측정합니다.

• 고해상도/
  고배율 이미지

  

  단파장 레이저가 백색 광원 시스템보다 높은 분해능으로 이미지를 생성합니다.

• 여러 개의 파일을 자동으로 분석 및 처리

  

  일괄 처리를 통해 측정 결과들에 대한 균일성과 재현성을 확보하며 분석 시간을 줄입니다.

• 사용하기 편하다

  

  샘플을 전처리할 필요가 없습니다. 사용자가 작업하기 편리한 소프트웨어를 제공합니다. 이 소프트웨어는 샘플간의 비교분석이 가능합니다.

• 
• 자세한 내용은 카탈로그를
  다운로드하여 확인하십시오.
• 

여기에서 다운로드하십시오.