IB 시리즈
간단한 판별에서 고정도 검출까지 대응
LCD 디스플레이의 각 제조 과정에서 반송 시 글라스 기판의 유무를 검출합니다. 투과량을 고정도로 판별할 수 있어서 안정적인 검출이 가능합니다.
실장 공정에서 칩의 기울기나 칩의 유무 등 미세 대상 물체를 확실히 검출합니다. 또한 80 μs 샘플링으로 고속 라인에서의 검출도 가능합니다.
2곳을 동시에 센싱하여 용지 공급 방향이나 반송 시 스큐 각도를 검출합니다. 또한 소형 헤드·고속 샘플링으로 케이스 안에서의 연속 측정도 가능합니다.
금속 가공이나 조립 공정에서 각종 샤프트의 이품종을 판별합니다. 탑재되어 있는 홀드 기능을 사용하면 대상 물체를 정지시키지 않고도 판정할 수 있습니다.
레이저 광의 투과량을 센싱하여 투명 필름의 이품종을 확실히 판별합니다. 또한 폭 방향으로 여러 대를 배치하면 코팅 얼룩을 다점으로 연속 검출할 수 있습니다.
글라스를 통과하는 레이저 광의 투과량을 센싱하여 공장 폐수의 탁도를 판정합니다. 또한 판정값은 0~100%까지 임의로 설정할 수 있습니다.
충전 공정 후 캡 삽입 시 입구 직경 판별과 캡 들뜸을 검출합니다. 고속 샘플링으로 대상 물체를 정지시키지 않고 반송 중에 검출할 수 있습니다.
레이저 광의 투과량을 센싱하여 액면 레벨을 고정도로 검출합니다. 또한 소형 헤드이기 때문에 협소한 공간에도 설치가 가능합니다.
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