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          초고속·고정도 마이크로미터

          LS-9000 시리즈

          [ 고속 · 안정 측정 ] 을 실현하는 테크놀로지

          3-CMOS 시스템

          대상 물체가 흔들려도 안정 측정

          고속 선재의 외경 측정

          고속 노광하고 있기 때문에 대상 물체가 흔들려도 대상 물체를 확실히 촬상하므로 정확한 측정이 가능합니다.

          고속 노광 CMOS

          진동하는 작업 대상과 관련된 오류

          16,000 회/초의 고속 샘플링

          측정용 CMOS 의 주변 회로를 하나로 칩화하여 S/N 비를 큰 폭으로 향상시킴으로써 고속 샘플링을 실현. 예를 들면, 1000 m/ 분으로 흐르는 대상 물체를 약 1 mm 의 피치로 측정할 수 있습니다. 또한 고속으로 흔들리는 대상 물체도 안정적으로 측정할 수 있습니다.

          기울어진 대상 물체라도 안정 측정

          샤프트의 외경 측정

          대상 물체의 방향을 인식하여 측정값을 보정하기 때문에 기울기에 의한 오차가 발생하지 않습니다.

          모니터 CMOS

          모니터 영상

          기울기 보정 기능

          모니터 CMOS 로 촬상한 화상을 통해 대상 물체의 기울기를 인식. 각도에 맞게 측정값을 보정하므로 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한 촬상한 상태를 PC 소프트웨어 상에서 화상으로 확인할 수 있어서 누구나 안심하고 측정할 수 있습니다.

          2 차원 영역에서 대상 물체의 위치를 알 수 있다

          광화이버의 위치 · 외경 측정

          투수광 방향의 위치를 수치로 확인할 수 있습니다. 중심 부분으로의 위치 조정 등이 간단합니다.

          투수광 위치 측정 CMOS

          2 차원 영역에서 위치를 인식합니다.

          투수광 방향 · 위치 측정 기능

          투광부와 수광부 간의 위치에 따라 달라지는 측정 대상 물체의 윤곽 정보를 수치화하여 투수광 간의 위치를 측정합니다. 대상 물체의 위치를 2 차원으로 결정하기 때문에 측정 중심 위치에서의 설치나 장치에 대한 피드백 제어가 간단합니다.

          극세 외경 · 극세 간격 측정 기능

          극세 와이어의 외경 측정

          극세 대상 물체를 측정하는 전용 모드를 새롭게 탑재. 기존의 모델과 비교하여 더 가는 외경과 갭 측정이 가능해졌습니다.

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