한국

대상 물체가 흔들리는 환경에서도 정확한 측정이 가능

대상 물체가 흔들려도 안정 측정

고속 선재의 외경 측정

고속 노광하고 있기 때문에 대상 물체가 흔들려도 대상 물체를 확실히 촬상하므로 정확한 측정이 가능합니다.

고속 노광 CMOS

진동하는 작업 대상과 관련된 오류

16,000 회/초의 고속 샘플링

측정용 CMOS 의 주변 회로를 하나로 칩화하여 S/N 비를 큰 폭으로 향상시킴으로써 고속 샘플링을 실현. 예를 들면, 1000 m/ 분으로 흐르는 대상 물체를 약 1 mm 의 피치로 측정할 수 있습니다. 또한 고속으로 흔들리는 대상 물체도 안정적으로 측정할 수 있습니다.

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