개요
고속 노광하고 있기 때문에 대상 물체가 흔들려도 대상 물체를 확실히 촬상하므로 정확한 측정이 가능합니다.
측정용 CMOS 의 주변 회로를 하나로 칩화하여 S/N 비를 큰 폭으로 향상시킴으로써 고속 샘플링을 실현. 예를 들면, 1000 m/ 분으로 흐르는 대상 물체를 약 1 mm 의 피치로 측정할 수 있습니다. 또한 고속으로 흔들리는 대상 물체도 안정적으로 측정할 수 있습니다.
맨 위로
KOREA KEYENCE Co.,Ltd. 우) 13591 경기도 성남시 분당구 황새울로 326 (서현동 서현빌딩 8층) 전화:031-789-4300 이메일: info@keyence.co.kr
Copyright (C) 2021 KEYENCE CORPORATION. All Rights Reserved.