대상 물체가 흔들리는 환경에서도 정확한 측정이 가능
대상 물체가 흔들려도 안정 측정
고속 노광하고 있기 때문에 대상 물체가 흔들려도 대상 물체를 확실히 촬상하므로 정확한 측정이 가능합니다.
고속 노광 CMOS
16,000 회/초의 고속 샘플링
측정용 CMOS 의 주변 회로를 하나로 칩화하여 S/N 비를 큰 폭으로 향상시킴으로써 고속 샘플링을 실현. 예를 들면, 1000 m/ 분으로 흐르는 대상 물체를 약 1 mm 의 피치로 측정할 수 있습니다. 또한 고속으로 흔들리는 대상 물체도 안정적으로 측정할 수 있습니다.
- 초고속·고정도 마이크로미터
- LS-9000 시리즈
