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          마이크로 헤드형 분광 간섭 레이저 변위 센서

          SI-F 시리즈

          SI-F 시리즈의 용도

          자동화와 센싱 분야에서 탁월한 성능을 발휘.

          웨이퍼 두께 측정

          실리콘 웨이퍼 등 고정도 대상 물체의 두께, 휨 등을 측정합니다.

          웨이퍼 두께 측정

          [장점]
          초고정도

          분해능 0.001 μm

          다기능 컨트롤러

          연산 회로를 사용 빠르게 두께를 계산

          발열이 없다.

          측정 오차 요인을 제거했습니다

          복사기 내부의 롤러 동작 측정

          복사기 등 정밀 기계 내부에서 각 부품의 동작 상태를 측정합니다.

          복사기 내부의 롤러 동작 측정

          [장점]
          Ø2 mm의 마이크로 헤드

          설치 장소를 가리지 않습니다.

          내열 85℃

          발열체 가까이에서도 측정 가능

          5 kHz의 고속 샘플링

          빠른 동작도 확실하게 측정

          고정도 스테이지의 위치 결정

          스테이지의 정지 위치를 측정하여 기준으로부터의 오차값을 설비에 피드백합니다.

          고정도 스테이지의 위치 결정

          [장점]
          설치 거리 10 mm 이상

          충돌의 우려가 없습니다.

          6축까지 동시 측정

          시간차 없이 동시 다축 제어 가능

          Ø8 mm의 소형 헤드

          설치 장소에 영향을 받지 않습니다.

          고정도 롤러의 진동 측정

          코팅 롤 등 엄격하게 측정해야 하는 롤러의 진동 양을 측정합니다.

          고정도 롤러의 진동 측정

          [장점]
          대상 물체를 손상시키지 않는다

          비접촉이므로 대상 물체가 손상되지 않습니다.

          진동 폭 다이렉트 표시

          컨트롤러 내부에서 진동 폭을 순식간에 연산・표시

          5 kHz의 고속 샘플링

          대상 물체의 고속 회전에도 대응합니다.

          노광 마스크의 갭 측정

          노광 마스크와 글라스 기판의 틈새(갭) 을 측정합니다.

          노광 마스크의 갭 측정

          [장점]
          설치 거리 80 mm 이상

          마스크가 두꺼워도 설치할 수 있습니다.

          Ø12 mm의 소형 헤드

          설치 장소에 영향을 받지 않습니다.

          발열하지 않는다

          측정 오차 요인을 제거했습니다

          글라스 디스크의 두께 측정

          글라스 디스크 등 빛을 투과하는 대상 물체의 두께를 측정합니다.

          글라스 디스크의 두께 측정

          [장점]
          초고정도

          분해능 0.001 μm

          5 kHz의 고속 샘플링

          고속 회전하는 대상 물체의 두께도 측정할 수 있습니다.

          6축까지 동시 측정

          시간차 없이 동시 다축 제어 가능

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