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          마이크로 헤드형 분광 간섭 레이저 변위 센서

          SI-F 시리즈

          SI-F 시리즈 데모 무비

          다양한 문제점을 해결합니다.

          반복 정도

          이 무비에서 반복 정도 1 nm의 측정이 얼마나 안정적인지 소개합니다. SI 시리즈의 첨단 테크놀로지를 참조해 주십시오.

          대상 물체의 겉과 속 양쪽의 두께 측정

          하드디스크 매체의 초고정도 측정 모습을 소개합니다. 측정 원리를 포함한 두께 측정의 비결이 밝혀집니다.

          필름 두께 측정

          필름에 휨이 있는 경우에도 필름 두께 측정이 안정된 모습을 소개합니다. 각도 ±1°의 기울기가 있는 경우에도 측정값은 바뀌지 않습니다.

          온도 드리프트 성능

          SI-F 시리즈는 공간이 매우 협소한 장소에서도 간단하게 설치할 수 있습니다. 또한 온도 드리프트의 영향을 받지 않는 측정기이기 때문에 케이스의 열 동작 측정에 뛰어난 능력을 발휘합니다.

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