검출 원리인 「TOF」와 「주문형 IC」의 조합으로 0.06~5 m의 슈퍼 와이드 레인지 검출과, 색이나 표면 상태에 영향받지 않는 고차원적인 안정 검출을 반사형으로 실현할 수 있습니다.
"기준"이 되는 물체의 위치를 기억하고 그 이외의 상태를 모두 검출합니다. 배경을 "기준"으로 하면 맞은편에 수광부나 반사판을 설치한 것과 동일한 검출 조건을 만들 수 있습니다.
「삼각 측정 방식」이나 「초음파」를 이용한 거리 검출 타입에 비해 주변 물체에 의한 영향을 덜 받습니다. 투광부의 양옆에 수광 렌즈가 있어서 틈이나 홀 너머의 검출도 가능합니다.
모드 설정을 통해 4대까지 상호 간섭을 방지할 수 있습니다. 근접 설치해도 주변의 다른 센서가 오동작하지 않습니다. 상호 간섭을 고려해서 설치 장소나 조사 각도를 고민할 필요가 없습니다.
주문형 IC의 개발로 하이 파워화와 높은 외란광 내성을 동시에 실현했습니다. 화상 센서용 조명 등 공장 내에서 발생하는 다양한 빛에 영향받지 않고 확실한 검출이 가능합니다.