한국

동급 최고의 검출 성능

"HS2-TOF" 테크놀로지

검출 원리인 「TOF」와 「주문형 IC」의 조합으로 0.06~5 m의 슈퍼 와이드 레인지 검출과, 색이나 표면 상태에 영향받지 않는 고차원적인 안정 검출을 반사형으로 실현할 수 있습니다.

"HS2-TOF" 테크놀로지

DATUM 기능

DATUM 기능

"기준"이 되는 물체의 위치를 기억하고 그 이외의 상태를 모두 검출합니다. 배경을 "기준"으로 하면 맞은편에 수광부나 반사판을 설치한 것과 동일한 검출 조건을 만들 수 있습니다.

틈새 반대편의 대상 물체도 검출 가능한 구조

틈새 반대편의 대상 물체도 검출 가능한 구조

「삼각 측정 방식」이나 「초음파」를 이용한 거리 검출 타입에 비해 주변 물체에 의한 영향을 덜 받습니다. 투광부의 양옆에 수광 렌즈가 있어서 틈이나 홀 너머의 검출도 가능합니다.

우수한 간섭 방지

상호 간섭 방지 4대까지

모드 설정을 통해 4대까지 상호 간섭을 방지할 수 있습니다. 근접 설치해도 주변의 다른 센서가 오동작하지 않습니다. 상호 간섭을 고려해서 설치 장소나 조사 각도를 고민할 필요가 없습니다.

외란광 내성 100,000 lux

주문형 IC의 개발로 하이 파워화와 높은 외란광 내성을 동시에 실현했습니다. 화상 센서용 조명 등 공장 내에서 발생하는 다양한 빛에 영향받지 않고 확실한 검출이 가능합니다.

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