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          CCD 투과형 레이저식 판별 센서

          IG 시리즈

          Intelligent[고정도]

          새로 개발된 광학 시스템으로 높은 안정성과 측정 정도를 실현

          다파장 레이저 광+I-DSP

          다파장 레이저 광+I-DSP

          일반적인 레이저는 투광 스폿이 아래 그림과 같이 반점 상태가 됩니다. 이는 레이저 특유의 간섭에 의해 나타나며 레이저가 단일 파장이기 때문에 생기는 현상입니다. IG는 레이저 광의 다파장화로 이 문제를 해결했습니다. CCD에 비치는 그림자가 더욱 명확해져 투명체 등 난이도가 높은 대상 물체라도 안정적으로 검출할 수 있게 되었습니다. 또한 수광부에는 병렬 연산 칩인 I-DSP를 탑재하여 데이터를 고속 처리하고 노이즈 성분을 줄였습니다.

          스폿 이미지

          단일 파장 레이저 광
          (기존 레이저 센서)

          단일 파장 레이저 광

          반점 상태의 모양이 발생

          >

          다파장 레이저 광(IG)

          다파장 레이저 광(IG)

          여러 개의 파장이 겹쳐 평균화됩니다.

          [동급 최고]

          반복 정도 5 μm

          [동급 최고]

          직선성 ±0.1%

          투명체나 매시 대상 물체도 안정 검출

          투명체나 매시 대상 물체도 안정 검출

          CCD 채택으로 위치에 따라 대상 물체를 인식합니다. 투명체나 메시 형태의 대상 물체도 에지 컨트롤이나 위치 결정을 안정적으로 실시할 수 있습니다.

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