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샤프 라인 센서 헤드

매우 까다로운 검출에서도 안정적인 성능을 발휘하는 새로운 고성능 헤드를 IL시리즈에 도입했습니다.

샤프 라인 센서 헤드

투광부에는 샤프 라인 빔이 가능한 실린드리컬 렌즈가 장착되어 있습니다. 또한 헤드 내부의 신호 처리 체계를 개선하고 고해상도 알고리즘을 탑재하여 동급 최고 성능을 실현했습니다.

최고의 안정성을 실현하는 3가지 기능 탑재

초해상도 알고리즘 탑재[업계 최초]

이러한 알고리즘은 대상 물체의 표면 조건 변화에 따른 CMOS 수광 파형의 차이점을 식별하고 파형을 최적의 방법으로 자동 처리합니다. 이제, 금속 헤어라인, 수지, 고무 등 검출이 어려웠던 대상 물체에서도 튜닝 없이 안정적으로 검출할 수 있습니다.

최고의 안정성을 실현하는 3가지 기능 탑재

와이드 다이내믹 레인지의 SCAN 기능

와이드 다이내믹 레인지의 SCAN 기능
SCAN (=Sensitive-laser Control Analyzer)

다양한 대상 물체를 확실하고 안정적으로 검출하기 위해 레이저 파워, 셔터 시간, 수광 게인을 가변시킵니다. 또한 새로운 디지털 회로를 개발하여 기존 모델보다 2.5배 더 높은 150만 배의 다이내믹 레인지를 실현했습니다. 대상 물체와 그 표면 상태에 맞게 실시간으로 제어하여 안정적인 검출이 가능합니다.

샤프 라인 빔

샤프 라인 빔

당사의 독자적인 광학 시스템에 의해 빔 직경을 극한(25μm)까지 샤프하게 하여 기존에는 없었던 안정적인 검출을 실현했습니다. 스폿 형상에 따라 최적화된 광학 시스템을 극대화하여 검출하기 때문에 검출 편차가 많았던 애플리케이션도 안정화됩니다.

용도에 따라 선택 가능한 KEYENCE 헤드의 다양한 라인업(20mm - 1m)

IL-다양한 종류의 센서 헤드

와이드 다이내믹 레인지의 SCAN 기능

와이드 다이내믹 레인지의 SCAN 기능
SCAN (=Sensitive-laser Control Analyzer)

다양한 대상 물체를 확실하고 안정적으로 검출하기 위해 레이저 파워, 셔터 시간, 수광 게인을 가변시킵니다. 또한 새로운 디지털 회로를 개발하여
기존 모델보다 1.7배 더 높은 100만 배의 다이내믹 레인지를 실현했습니다.
대상 물체와 그 표면 상태에 맞게 실시간으로 제어하여 안정적인 검출이 가능합니다.

견고한 헤드 구조

견고한 헤드 구조

헤드 구조를 개선하여 다양한 환경하에서 사용할 수 있도록 튼튼하게 만들었습니다. 또한, 광학 베이스에 다이캐스트를 채택하여 베이스의 변형으로 인한 측정 오차의 리스크를 방지했습니다.

2000만 회 비단선

독자적인 비구면 렌즈를 채택하여 최소 사이즈의 헤드 케이스를 실현했습니다. 헤드 중량도 60g※(케이블 미포함)에 불과합니다.
센서 헤드의 케이블은 연속적인 굴곡에 강한 로봇 케이블을 채택하고 있어서 가동부에 사용하는 경우에도 안심할 수 있습니다. ※IL-S025

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