어떤 대상 물체도 3200 point의 고해상도로 측정 NEW 초고해상도 인라인 프로파일 측정기 LJ-X8000 시리즈

측정 원리

실린드리컬 렌즈를 통해 띠 형상으로 퍼진 레이저광이 대상 물체의 표면에서 확산 반사 됩니다. 이 반사광을 CMOS 상에 결상시키고, 위치 및 형상의 변화를 검출하여 변위·형상을 측정합니다.

다양한 대상 물체, 다양한 범위를 커버하는
폭넓은 대응력

LJ-X8020 X축 (폭) 8 mm
LJ-X8060 X축 (폭) 16 mm
LJ-X8080 X축 (폭) 39 mm
LJ-X8200 X축 (폭) 80 mm
LJ-X8400 X축 (폭) 320 mm
LJ-X8900 X축 (폭) 720 mm

3200 포인트 / 프로파일로 정확도 저하없이
인라인 검사 실현

애플리케이션

  • 필름 주름 검출

  • 테일러드 블랭크 용접의 형상 검사

  • 단면의 치수 측정

인라인 검사는 이렇게 달라진다

자세한 내용은 카탈로그를 참조해 주십시오.

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