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비접촉으로 물체의 윗면 위치를 검출합니다. 동축 측정이므로 측정 포인트가 깊숙하더라도 안정적으로 측정할 수 있습니다.
LJ-X8000 시리즈는 커넥터 단자의 위치와 돌출량을 동시에 검사하여 설비 수 감축에 의한 비용 절감을 실현합니다.
원통 형상의 평행광을 조사하여 그림자로 치수를 측정합니다. 외경, 단차, 길이 등 각종 치수를 측정할 수 있습니다.