광섬유 외경을 비접촉 측정 주행 소선·모재를 흔들림에 강하게 측정

주행하는 광섬유(소선·모재·피복·클래드)의 외경·위치·타원도를 LS-9000 시리즈가 비접촉·16,000회/초 샘플링으로 전수 인라인 측정. 투명체도 기울기 보정 기능으로 안정적으로 측정합니다.

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광섬유 외경 측정에 관한 문의

광섬유 외경을 올바르게 측정하지 못할 때 발생하는 3가지 과제

광섬유 외경·클래드 직경의 편차는 전송 특성·수율에 직결됩니다. 기존 방식에는 각각 현장에서의 한계가 있습니다.

외경·클래드 직경의 편차가 특성·수율에 직결

인선·피복 공정에서 소선이나 클래드의 외경에 편차가 발생하면 접속 손실이나 전송 특성, 피복 두께에 영향을 주어 규격 외 불량의 원인이 됩니다. 공정 중에 감지하지 못하면 후공정이나 최종 제품에서 불량으로 표면화되어 장척 로스와 클레임을 초래합니다. 특히 고속 인선 라인에서는 미세한 외경 변동도 긴 구간의 불량으로 유출되어 수율과 비용을 크게 압박합니다.

레이저 스캔 방식은 주행 시의 흔들림 오차가 발생함

주행하는 광섬유에는 반드시 흔들림이나 처짐이 발생하지만, 스캔 방식은 차광 타이밍의 변화가 그대로 오차가 되기 쉬운 구조입니다. 흔들림을 억제하는 지그나 속도 제한이 필요하게 되어 고속 인선 라인에서의 전수 관리를 어렵게 만듭니다. 흔들림으로 인한 편차를 불량으로 오판정하면 양품까지 배제되고, 놓치면 규격 외 소선이 후공정으로 유출되어 수율과 신뢰성을 떨어뜨립니다.

투명체·접촉식으로는 전수 검사를 할 수 없음

투명한 광섬유는 에지 검출이 어렵고, 접촉식은 주행을 멈춰야 하며 가는 소선에서는 스크래치나 변형을 초래하기도 합니다. 샘플링 중심의 검사에서는 심선 위치 어긋남이나 국소적인 가늘어짐을 놓치기 쉬워 유출 불량으로 이어집니다. 주행을 멈추지 않고 비접촉으로 투명체까지 전수를 측정할 수 있는 수단이 요구되고 있습니다. 심선 위치 어긋남이나 국소적인 가늘어짐이 최종 제품까지 유출되면 접속 손실이나 통신 품질 저하로 표면화되어 재작업과 클레임의 원인이 됩니다.

광섬유 공정과 외경·심선 위치의 측정 포인트

모재에서 권취까지의 각 공정에서 외경·심선 위치를 파악하여 편차와 누락을 조기에 감지합니다.

  1. 1 모재·프리폼 – 측정 ①. 광섬유 모재의 외경과 타원도를 비접촉으로 측정하여 소재 단계의 편차를 관리합니다.
  2. 2 인선(드로잉) – 측정 ②. 주행하는 소선의 외경을 16,000회/초 샘플링으로 연속 측정. 흔들림·기울기가 있어도 고속 노광 CMOS와 기울기 보정 기능으로 안정적으로 측정합니다.
  3. 3 심선 위치·피복 – 측정 ③. 투수광 위치 측정 CMOS로 심선 위치를 2차원으로 파악하고 피복 후에는 외경도 측정합니다.
  4. 4 전수 모니터링/기록 – 측정 ④. 외경·존재를 모니터링하여 누락이나 국소적인 가늘어짐을 감지. 전체 길이의 외경을 기록하여 품질 관리에 활용합니다.

광섬유 외경 측정 방식 비교

측정 방식에 따라 주행 시의 흔들림 내성·소선에 미치는 영향·심선 위치 측정·고속 전수·악환경 대응에 큰 차이가 있습니다.

비교 항목 LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉) 레이저 스캔 방식 접촉식 마이크로미터
비접촉·소선에 미치는 영향
LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉)
○ 비접촉으로 스크래치 없음
레이저 스캔 방식
○ 비접촉
접촉식 마이크로미터
× 스크래치·변형 우려 있음
주행 시의 흔들림·기울기 내성
LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉)
○ 고속 노광 CMOS+기울기 보정
레이저 스캔 방식
× 차광 타이밍 오차가 발생함
접촉식 마이크로미터
× 주행 중에는 측정 곤란
심선 위치 측정
LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉)
○ 2차원 위치 측정에 대응
레이저 스캔 방식
△ 위치 측정은 1방향만 가능
접촉식 마이크로미터
× 외경만 가능
고속 연속·전수 인라인
LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉)
○ 16,000회/초 샘플링으로 전수
레이저 스캔 방식
△ 스캔 속도에 의존
접촉식 마이크로미터
× 정지·샘플링
극세 소선·악환경 대응
LS-9000 시리즈(투과광·고속 노광 CMOS/비접촉)
○ 극세 모드·IP67/에어 퍼지
레이저 스캔 방식
△ 대상·구성에 따라 다름
접촉식 마이크로미터
× 가는 직경은 부적합

LS-9000 시리즈를 선택하는 이유

LS-9000 시리즈는 투과광의 에지 검출로 주행하는 광섬유의 외경을 비접촉 측정하고, 고속 노광 CMOS와 기울기 보정 기능으로 스캔 방식의 흔들림 오차를 억제하여 16,000회/초 샘플링으로 연속 측정합니다. 투수광 위치 측정 CMOS로 심선 위치를 2차원으로 파악하고, 투명체도 2단계 에지 검출로 측정합니다. 극세 모드 및 IP67·에어 퍼지에도 대응하여 접촉식의 정지·스크래치 우려를 해소합니다.

광섬유 외경 측정에 대응하는 LS-9000 시리즈

고휘도 Green-LED 투과광과 3-CMOS를 이용한 광학식 치수 측정기. 주행하는 광섬유의 외경을 비접촉으로 전수 측정합니다.

광섬유 외경 측정에 대응 - LS-9000 시리즈

초고속·고정도 마이크로미터

고휘도 Green-LED 투과광과 3-CMOS를 통해 주행하는 광섬유의 외경을 비접촉으로 에지 검출. 16,000회/초의 고속 샘플링과 고속 노광 CMOS·기울기 보정 기능으로 흔들림·기울기가 있는 주행 소선도 안정적으로 측정합니다. 투수광 위치 측정 CMOS로 선재의 위치를 2차원으로 파악하고, 2축 타입 센서 헤드로 타원도도 측정. 투명체·2단계 에지 검출을 통해 투명한 광섬유도 측정할 수 있으며, 극세 모드로 가는 소선이나 틈새에도 대응합니다. 주사부가 없는 구동부 없는 구조로 수명이 길고 유지 보수가 필요 없습니다. 에어 퍼지 기능과 IP67의 내환경 설계로 인선·피복 라인 환경에도 설치할 수 있습니다.

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광섬유 외경 측정에 관한 문의

광섬유 외경 측정 활용 사례

소선·모재·피복·클래드 등 다양한 광섬유의 외경·위치 측정에 활용되고 있습니다.

광섬유 외경·위치 측정

투과광 에지 검출을 통해 주행 중인 광섬유의 외경을 16,000회/초 샘플링으로 연속 측정. 또한 주행 위치도 동시에 검출합니다.

광섬유 모재 외경 측정

투명한 모재도 안정적으로 외경 측정. 또한 대상물이 기울어져 있어도 보정 기능으로 정확하게 측정합니다.

극세 소선·피복 직경 측정

φ10 μm의 극세선도 전용 측정 모드로 안정적으로 측정. 여러 개의 동시 측정에도 대응.

열악한 환경에서의 외경 측정(에어 퍼지·IP67)

분진·물이 있는 인선 환경에서도 에어 퍼지 기능으로 안정적으로 측정. IP67의 내환경 설계로 장기간 안정적으로 사용할 수 있습니다.

광섬유 외경 측정(LS-9000 시리즈)에 관한 자주 묻는 질문

Q 주행하는 광섬유의 외경을 비접촉으로 측정할 수 있습니까?

A

측정할 수 있습니다. LS-9000 시리즈가 투과광 에지 검출로 주행 소선의 외경을 비접촉 측정하고, 16,000회/초 샘플링으로 전장·전수를 연속 측정합니다.

Q 투명한 광섬유도 측정할 수 있습니까?

A

측정할 수 있습니다. 투명체·2단계 에지 검출 임계값 설정 기능으로 투명한 광섬유나 투과량이 다른 대상물도 측정할 수 있습니다.

Q 심선 위치나 타원도도 측정할 수 있습니까?

A

측정할 수 있습니다. 투수광 위치 측정 CMOS로 X축·Y축의 2차원 위치를 1대로 파악하여 심선 위치를 측정. 2축 타입 센서 헤드로 타원도도 측정할 수 있습니다.

Q 레이저 스캔 방식과 어떻게 다릅니까?

A

스캔 방식은 주행 시의 흔들림이 차광 타이밍의 오차가 되기 쉬운 구조이지만, LS-9000 시리즈는 고속 노광 CMOS와 기울기 보정 기능으로 흔들림·기울기에 강해 안정적으로 측정합니다.

Q 가는 소선이나 모재까지 폭넓게 측정할 수 있습니까?

A

대응합니다. 극세 모드로 가는 소선이나 틈새를 측정할 수 있으며, 대구경 타입으로 모재의 외경까지 폭넓게 커버합니다.

Q 분진이나 물이 있는 인선 환경에서도 사용할 수 있습니까?

A

사용할 수 있습니다. 에어 퍼지 기능과 IP67의 내환경 설계로 인선·피복 라인에서도 안정적으로 측정할 수 있습니다.

Q 광섬유의 외경 측정/심선 위치 측정 과제, 편하게 상담해 주십시오

A

측정 방식·설치 구성·사양에 대해서는 카탈로그 또는 문의 양식에서 확인하실 수 있습니다.

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