백색 간섭계 탑재 레이저 현미경
VK-X4000 시리즈
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백색 간섭계 탑재 레이저 현미경 VK-X4000 시리즈
다양한 3D 형상을 고정밀 측정
3가지 측정 원리를 통합하여 모든 3D 측정 니즈에 대응합니다.
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1대에 집약된 3가지 측정 원리
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여러 대상 물체·포인트의 측정을 완전 자동화
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AI 분석 기능으로 표면 형상의 차이를 순식간에 추출
백색 간섭계 탑재 레이저 현미경 VK-X4000 시리즈는 레이저 공초점, 백색 간섭, 포커스 바리에이션의 세 가지 스캔 원리를 통합한 '트리플 스캔 방식'을 탑재했습니다. 이를 통해 다양한 대상물을 높은 정밀도로 측정하고 분석할 수 있습니다. 또한, 경면체나 투명체와 같이 측정이 까다로운 소재도 고속·고정밀로 광범위하게 측정할 수 있습니다. 뿐만 아니라, 새롭게 탑재된 '멀티 포인트 측정 기능'은 복잡한 설정 없이 여러 지점의 측정을 완전 자동으로 수행합니다. 이 기능을 통해 누구나 간단하게 다점 측정을 자동화할 수 있습니다. 결과적으로 작업 시간은 단축하면서 측정 포인트 수는 늘려, 연구 개발의 객관적인 평가와 신뢰성을 한층 더 향상시킬 수 있습니다.
특징
3가지 측정 원리를 1대에 탑재
재질·형상에 관계없이 압도적인 3D 측정 정밀도를 실현
레이저 공초점
다양한 재질과 형상을 정밀하게 측정합니다.
백색 간섭
서브 나노 수준의 분해능으로 3D 표면 데이터를 왜곡 없이 구현합니다.
포커스 바리에이션
넓은 영역의 미세한 표면 형상을 한 번에 측정합니다.
다점 자동 측정으로 누구나 간단하게 3D 측정
다점 측정 기능으로 동시에 여러 포인트를 측정
측정하고자 하는 위치를 클릭하기만 하면, 위치나 좌표, 배율 등을 간편하게 설정할 수 있습니다.
여러 개의 대상 물체를 자동으로 측정
한 번 설정한 측정 조건은 복잡한 과정 없이 여러 대상 물체에 그대로 적용할 수 있습니다.
거칠기 자동 분석 애플리케이션
Ra 값은 동일한데, 외관상으로는 차이가 있다?
AI-ANALYZER가 수많은 '거칠기 파라미터' 속에서 차이를 유발하는 파라미터를 순식간에 규명합니다.
Ra:2.3 µm
Ra:2.3 µm
일반적으로 사용되고 있는 Ra, Rz 외에도 수많은 거칠기 파라미터가 존재합니다.
AI-ANALYZER는 표면의 특징을 가장 잘 나타내는 최적의 파라미터를 자동으로 제안합니다.
고배율과 저배율, 평면부터 복잡한 형상까지
재질이나 형상에 관계없이 어떤 대상 물체든지 측정할 수 있습니다.
