초고해상도 인라인 프로파일 측정기
LJ-X8000 시리즈
초고해상도 인라인 프로파일 측정기 LJ-X8000 시리즈
다양한 대상 물체를 최고의 정도로 측정
광시야 · 고정도타입 등장
초고해상도 측정
- 초고정도
- 어떤 소재에도 대응
- 설정은 불과 3단계
업계 최고인 3200 Point/프로파일의 초고해상도 측정을 실현한 초고해상도 인라인 프로파일 측정기 LJ-X8000 시리즈는 "있는 그대로의 형상"을 정확하게 포착하여 고도의 3D 검사를 실현하는 레이저 변위센서(2D・3D)입니다. 초고해상도이면서 최속 16khz의 샘플링을 실현. 또한 라인 반송 중에 발생하는 위치 틀어짐이나 편차 등을 모든 방향에서 틀어짐을 검출, 자동 보정하여 측정할 수 있기 때문에 위치 정렬에 시간을 들인다든지, 라인을 멈출 필요 없이 안정적으로 자동 전수 검사를 할 수 있습니다. 덧붙여서 초고해상도와 사용의 편리함을 양립. 단 3step으로 간단히 설정을 완료할 수 있기 때문에 도입이나 설정 전환의 공수를 대폭 절감할 수 있습니다.
특징
3가지 모델이 새롭게 출시
고정밀 측정을 더욱 광범위하게
고정밀·광시야
LJ-X8030
LJ-X8070
LJ-X8100
기존
용접 직후의 표면과 같이 광택이 있거나 표면 상태가 고르지 못한 대상 물체는 노이즈가 발생하기 쉽습니다.
신규 센서 헤드
새로운 헤드는 광학계의 배치를 최적화하여 삼각 측정의 기본 성능을 획기적으로 향상, 압도적으로 높은 정밀도를 실현했습니다. 그 결과, 용접 직후와 같이 노이즈가 발생하기 쉬운 대상 물체도 안정적으로 검사할 수 있습니다.
다양한 대상 물체, 다양한 범위를 커버하는 폭넓은 대응력
LJ-X8000 시리즈는 어떠한 검사에도 대응할 수 있는 다양한 라인업으로 각종 생산 현장에서의 품질 향상, 인건비 절약, 공정 개선을 지원합니다.
애플리케이션
힌지 치수 측정
리튬 이온 배터리 상단 커버의 용접 검사
IC 적층 및 돌출 검사
풀리 결함 검사
타이어 형상/프로파일 검사
쿠키 칩핑 검사
도포/코팅 검사
금속 판금 두께/평탄도 검사
인라인 외관 검사, 이제는 평면에서 3D로 진화
평면
- 높이·깊이에 대한 파악이 불가
- 색상·무늬에 따른 측정값 불안정
- 명암 대비가 낮은 대상 물체는 검출이 불안정
3D
- 높이·폭·부피·면적 등 모두 측정 가능
- 색상이나 무늬에 관계없이 안정적으로 측정
- 동일 색상의 미세한 함몰도 안정적으로 검출
3D 검사로 할 수 있는 검사
| 치수 검사 | |||
|---|---|---|---|
| 치수 검사 | 높이 | 높이 | 깊이 |
| 깊이 | 단차 | 폭 | |
| 단차 | 두께 | 평면도 | |
| 폭 | 각도 | ||
| 두께 | |||
| 평면도 | |||
| 각도 | |||
| 외관 검사 | |||
|---|---|---|---|
| 외관 검사 | 부피 | 부피 | 버 |
| 버 | 찍힘 | 이물질 | |
| 찍힘 | 균열 | 칩핑 | |
| 이물질 | 변형 | 요철 | |
| 균열 | |||
| 칩핑 | |||
| 변형 | |||
| 요철 | |||
| 형상 검사 | |||
|---|---|---|---|
| 형상 검사 | 유무 | 유무 | 뒤집힘 |
| 뒤집힘 | 들뜸 | 휨 | |
| 들뜸 | 갭 | 카운트 | |
| 휨 | OCR | ||
| 갭 | |||
| 카운트 | |||
| OCR | |||
초고해상도 측정 기존 대비 4배
업계 최고인 3200 point/프로파일의 초고해상도 측정으로 대상 물체의 형상 묘사를 매우 정확하게 할 수 있습니다.
이를 통해「있는 그대로의 형상」을 표현하여, 더욱 정확한 측정·검사를 할 수 있습니다.
기존
- 거칠다
- 편차·수치 급증
- 표면 상태에 영향을 받기 쉽다
LJ-X8000
- 미세하다
- 정확
- 어떤 표면 상태에서도 안정
초고정도를 실현할 수 있었던 이유
단순히 CMOS의 화소 수를 올리면 1화소의 사이즈가 작아져 충분한 수광량을 얻을 수 없습니다. 결과적으로 높이 방향의 정도 저하·대상 물체 검출 능력의 저하를 초래합니다. LJ-X8000 시리즈는 이를 해소하기 위해 아래와 같은 신기술을 채택했습니다.
실린드리컬 렌즈
독자적인 설계의 실린드리컬 렌즈를 이용해 평행광을 조사. 대상 물체 표면의 반사광 산란을 억제합니다.
대구경 렌즈
독자적인 광학 설계와 더불어 기존 대비 3배의 면적을 자랑하는 대구경 수광 렌즈를 탑재해 수광량 향상을 실현.
고해상도 CMOS 기존 대비 4배
세계 최고인 3200 point/프로파일을 실현하는 신개발 고해상도 CMOS를 탑재.
프로파일 얼라인먼트 기능
3D 화상을 생성할 때 2D 프로파일의 위치를 X·Z·θ 각각에서 보정합니다. 진동이나 편심, 대상 물체의 휨 및 굴곡 등의 영향을 제거하여 검사에 적합한 화상을 생성합니다.
프로파일 얼라인먼트 없음
반송 시 진동의 영향을 받아 최적의 3D 화상을 생성할 수 없습니다.
프로파일 얼라인먼트 있음
프로파일 얼라인먼트를 통해 최적의 3D 화상을 생성할 수 있습니다. 흠집, 결함 등을 인라인에서 안정적으로 검사할 수 있습니다.
