사출 성형 취출 후의 불량 확인
센서를 여러 개 나열하여 금형 내부에 설치하거나 인출 후에 검출하는 기존 방식은, 금형의 종류가 바뀔 때마다 센서 위치를 변경하고 조정하는 데 시간이 걸리는 문제가 있었습니다.
AI 탑재 스마트 비전 IV 시리즈는 원거리에서 여러 지점을 한 번에 검출하므로, 다양한 품종의 여러 부위를 간단하게 안정적으로 검출할 수 있습니다.
OK
NG
센서를 여러 개 나열하여 금형 내부에 설치하거나 인출 후에 검출하는 기존 방식은, 금형의 종류가 바뀔 때마다 센서 위치를 변경하고 조정하는 데 시간이 걸리는 문제가 있었습니다.
AI 탑재 스마트 비전 IV 시리즈는 원거리에서 여러 지점을 한 번에 검출하므로, 다양한 품종의 여러 부위를 간단하게 안정적으로 검출할 수 있습니다.
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