마이크로 니들의 높이 측정
정 현미경을 이용한 검사는 사용자에 따른 편차나 검사에 소요되는 장시간 등의 과제가 있었습니다. 반면 WI 시리즈는 면으로 일괄 측정할 수 있어 좁은 범위에 대량으로 배치한 니들의 높이를 비접촉 방식으로 오차 없이 순식간에 측정할 수 있습니다.
정 현미경을 이용한 검사는 사용자에 따른 편차나 검사에 소요되는 장시간 등의 과제가 있었습니다. 반면 WI 시리즈는 면으로 일괄 측정할 수 있어 좁은 범위에 대량으로 배치한 니들의 높이를 비접촉 방식으로 오차 없이 순식간에 측정할 수 있습니다.