칩의 들뜸 검사

와이드 레인지이며 고정도로 측정할 수 있는 LJ-X 시리즈는 여러 칩의 들뜸이나 중첩을 한 번에 검사할 수 있습니다. 높이 데이터를 이용하여 판정하므로 정확하게 안정적으로 검사할 수 있습니다.

초고해상도 인라인 프로파일 측정기

LJ-X8000 시리즈