병 테두리의 흠집 검사
비전 시스템은 병 테두리의 흠집을 검사합니다.
파인 컬러 처리는 색의 색상, 채도, 명도를 추출합니다. XG시리즈의 트렌드 에지 스테인 모드는 에지를 검사해서 그 위치와 기준 모델을 비교합니다. 직경의 결함 차이가 확연하게 나지 않더라도 기준 모델과의 차이 때문에 흠집으로 추출됩니다.
- 이점
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병 주위의 결함을 검출할 때는 트렌드 에지 폭이 사용되었는데 폭의 미세한 편차를 보정할 수 없어서 작은 흠집을 검출하지 못했습니다. XG시리즈의 트렌드 에지 흠집 툴에서는 직경의 절대값이 아닌 윤곽을 비교하기 때문에 주위 윤곽 상에 있는 모든 편차를 검출합니다.
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- XG-7000 시리즈
초고속 고용량 멀티 카메라 비전 시스템 -
XG시리즈는 컨트롤러를 이용한 기본적인 직접 프로그래밍 또는 선택 사양인 Vision Editor PC 소프트웨어를 이용한 고급 프로그래밍을 제공합니다.
- XG-7000 시리즈
- CV-5000 시리즈
초고속·멀티 카메라 비전 시스템 -
강력한 검사 알고리즘과 고속성을 갖춘 범용 비전 시스템
- CV-5000 시리즈
- CV-3000 시리즈 단종
멀티 카메라 대응 초고속 디지털 비전 시스템 -
다양한 용도에 대응하는 플렉시블(Flexible) 비전 시스템
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테크니컬 가이드
- CV-3000 시리즈 단종
