광 디스크의 외관 검사
비전 시스템은 광 디스크의 표면을 검사합니다.
파인 컬러 처리는 색상, 채도, 명도의 레벨에 근거하여 데이터를 추출합니다. 따라서 수지의 색을 조정하지 않고도 대상 물체의 배경색과 다른 색을 검출할 수 있습니다. 또한 명도를 무시하는 기능을 통해 명도 정보를 처리 조건에서 삭제할 수 있으므로 조명의 편차가 발생하는 경우에 이미지가 더욱 안정됩니다.
- 이점
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흠집은 색채 추출 기능을 사용하여 검출되었으나 수지 색상이 다양하기 때문에 안정적인 검사를 어렵게 만들었습니다. 흠집 검출 기능이 있는 XG 시리즈 파인 컬러 처리는 색상이 다양한 수지 디스크에서도 설정을 조정하지 않고 안정적으로 결함을 추출하는 것을 가능하게 합니다.
제품 상세 정보 보기
- XG-7000 시리즈
초고속 고용량 멀티 카메라 비전 시스템 -
XG시리즈는 컨트롤러를 이용한 기본적인 직접 프로그래밍 또는 선택 사양인 Vision Editor PC 소프트웨어를 이용한 고급 프로그래밍을 제공합니다.
- XG-7000 시리즈
- CV-5000 시리즈
초고속·멀티 카메라 비전 시스템 -
강력한 검사 알고리즘과 고속성을 갖춘 범용 비전 시스템
- CV-5000 시리즈
- CV-3000 시리즈 단종
멀티 카메라 대응 초고속 디지털 비전 시스템 -
다양한 용도에 대응하는 플렉시블(Flexible) 비전 시스템
카탈로그
테크니컬 가이드
- CV-3000 시리즈 단종
