라벨 검사

Label inspection

비전 시스템은 라벨의 결함 여부를 검사합니다.

트렌드 에지 스테인 모드는 에지 위치와 이상적인 기준 모델을 비교함으로써 에지 위치의 미세한 편차를 검출합니다. 또한 각각의 위치를 출력하여 위치 맞춤에 문제가 발생했다는 것을 알려줌으로써 기계를 사전에 조정할 수 있도록 합니다.

이점

기존의 에지 툴에서는 큰 결함만 검출할 수 있었습니다. XG시리즈의 트렌드 에지 스테인 모드는 매우 미세한 흠집도 안정적으로 검출할 수 있습니다.

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