라벨 검사
비전 시스템은 라벨의 결함 여부를 검사합니다.
트렌드 에지 스테인 모드는 에지 위치와 이상적인 기준 모델을 비교함으로써 에지 위치의 미세한 편차를 검출합니다. 또한 각각의 위치를 출력하여 위치 맞춤에 문제가 발생했다는 것을 알려줌으로써 기계를 사전에 조정할 수 있도록 합니다.
- 이점
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기존의 에지 툴에서는 큰 결함만 검출할 수 있었습니다. XG시리즈의 트렌드 에지 스테인 모드는 매우 미세한 흠집도 안정적으로 검출할 수 있습니다.
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- XG-7000 시리즈
초고속 고용량 멀티 카메라 비전 시스템 -
XG시리즈는 컨트롤러를 이용한 기본적인 직접 프로그래밍 또는 선택 사양인 Vision Editor PC 소프트웨어를 이용한 고급 프로그래밍을 제공합니다.
- XG-7000 시리즈
- CV-5000 시리즈
초고속·멀티 카메라 비전 시스템 -
강력한 검사 알고리즘과 고속성을 갖춘 범용 비전 시스템
- CV-5000 시리즈
- CV-3000 시리즈단종
멀티 카메라 대응 초고속 디지털 비전 시스템 -
다양한 용도에 대응하는 플렉시블(Flexible) 비전 시스템
카탈로그
테크니컬 가이드
- CV-3000 시리즈단종
