원자 현미경(AFM)

표본 위에서 기계적 탐침을 움직임으로써 대상 물체를 측정하는 주사 탐침 현미경의 일종입니다. 원자 현미경은 서브 나노미터 수준에서 고해상도 데이터를 제공할 수 있습니다.